在測試測量領(lǐng)域，局部放電測試儀總線技術(shù)的發(fā)展歷來是工程師和科學(xué)家們*為關(guān)心的部分。從上世紀(jì)60年代推出的專用于儀器控制的GPIB總線，到現(xiàn)在被廣泛使用的USB、VXI、PXI和*新推出的LXI、PXI Express，不斷涌現(xiàn)的新型總線技術(shù)在幫助我們的工程師更快捷高效的完成測量任務(wù)的同時(shí)，也引起了行業(yè)內(nèi)專家們的廣泛爭論，究竟哪一種總線將會(huì)主宰未來的測試測量領(lǐng)域呢？

未來的趨勢——混合總線的測試系統(tǒng)

先讓我們回顧一下歷史，無論是GPIB還是串口，都已經(jīng)在測試行業(yè)應(yīng)用超過了數(shù)十年，但至今仍有很多的工程師在繼續(xù)使用 或購買相應(yīng)的儀器。再來看看幾乎已經(jīng)退出PC歷史舞臺(tái)的ISA總線，在現(xiàn)在的一些工控機(jī)里我們?nèi)耘f可以看到ISA插槽的身影，甚至有不少廠商還在生產(chǎn)基于 ISA總線的數(shù)據(jù)采集卡和GPIB控制卡，滿足一部分客戶的需求。可以說，任何一種總線都有其在行業(yè)內(nèi)獨(dú)特的優(yōu)勢，沒有一種總線會(huì)**到可以取代其它任何的總線。

所謂混合總線的測試系統(tǒng)，就是在一個(gè)系統(tǒng)中集成多個(gè)自動(dòng)化測試平臺(tái)的不同部件，包括PXI， PCI， GPIB， VXI， USB， LAN和LXI等不同的總線。從工程師的角度來看，當(dāng)設(shè)計(jì)一個(gè)測試系統(tǒng)時(shí)，往往需要平衡多方面的因素?，F(xiàn)在的產(chǎn)品變的越來越復(fù)雜，對(duì)混合信號(hào)測試的要求也就越來越高，這樣就需要利用不同總線測試平臺(tái)的優(yōu)勢，搭建一個(gè)混合的測試系統(tǒng)來滿足測試的需求。例如您的系統(tǒng)可能需要像PXI和PCI Express等模塊化局部放電測試儀總線所提供的高吞吐量和優(yōu)良的集成性，同時(shí)也可能需要基于USB或者LAN（包括LXI）的分立式儀器，完成一些特定的測試功能。此外，使用混合的系統(tǒng)，工程師們可以很容易的在現(xiàn)有的系統(tǒng)上進(jìn)行升級(jí)或是添加新的部件，而無需重新設(shè)計(jì)整個(gè)系統(tǒng)。同時(shí)，這樣的混合系統(tǒng)對(duì)軟件的架構(gòu)提出了更高的要求，希望無論是在驅(qū)動(dòng)服務(wù)層還是在應(yīng)用軟件層都能對(duì)不同的總線平臺(tái)進(jìn)行無縫的支持，也就是說，一個(gè)統(tǒng)一的軟件架構(gòu)將成為整個(gè)混合測試系統(tǒng)的核心。